GB/T 4937.30-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第30部分:非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理

GB/T 4937.30-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第30部分:非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理
仅供个人学习
反馈
标准编号:GB/T 4937.30-2018
文件类型:.rar
资源大小:2.78 MB
标准类别:国家标准
资源ID:189201
免费资源

GB/T 4937.30-2018标准规范下载简介

GB/T 4937.30-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第30部分:非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理
©版权声明
相关文章