GB／T 12085.12-2022标准规范下载简介
GB／T 12085.12-2022 光学和光子学 环境试验方法 第12部分：污染.pdfICS 37.020 CCS N 30
引言 范围 规范性引用文件 术语和定义 试验条件 条件试验 试验程序 环境试验标记 规范 附录A（规范性） 垫片材料浸液提取物pH值的测定 参考文献..
GB/T12085.122022
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有来自物理的、化学的、生物的、气候的以及电气的等各种环境条件的影响，都会使光学和光子学仪 性能发生变化而不能正常发挥功能。 鉴于上述原因，为了保证光学和光子学仪器产品的质量，需要模拟各种复杂的环境条件变化，对光 光子学仪器产品进行试验，考核其经受严酷环境条件的能力，因而GB/T12085包含了试验条件、 试验、试验程序、环境试验标记等条款。同时由于环境条件内容较多且分属不同的类型，为了便于 的贯彻，GB/T12085根据环境条件的类型拟分为15个部分。 第1部分：术语、试验范围。目的在于统一环境试验方法的术语和定义、试验程序及环境试验 标记。 第2部分：低温、高温与湿热。目的在于研究试样的光学、气候、机械、化学和电气（包括静电） 等特性受到温度和湿度影响的变化程度。 第3部分：机械作用力。目的在于研究试样的光学、气候、机械、化学和电气（包括静电）等特性 受到机械作用力影响的变化程度。 第4部分：盐雾。目的在于对仪器表面和保护涂（镀）层抵抗盐雾的能力进行评估。 第6部分：砂尘。目的在于研究试样的光学、气候、机械、化学和电气（包括静电）等特性受到砂 尘影响的变化程度。 第7部分：滴水、淋雨。目的在于研究试样的光学、气候、机械、化学和电气（包括静电）等特性 受到滴水、淋雨影响的变化程度。 第8部分：高内压、低内压、浸没。目的在于研究试样的光学、气候、机械、化学及电气（包括静 电）等特性受到环境气体高压、低压或浸没影响的变化程度。 第9部分：太阳辐射与风化。目的在于研究试样的光学、气候、机械、化学和电气（包括静电）等 特性受到太阳辐射或风能（太阳照射、湿热）影响的变化程度。 第11部分：长霉。目的在于研究试样的光学、气候、机械、化学和电气（包括静电）等特性受到 长霉的影响程度，以及评估霉菌代谢产物（比如酶或酸性物质）导致对零件的腐蚀程度或引起 线路板的短路等严重程度。 第12部分：污染。目的在于研究仪器，尤其是仪器的表面、涂层或合成材料短时间内暴露在试 剂中的抵抗能力。 第14部分：露、霜、冰。目的在于研究试样的光学、气候、机械、化学和电气（包括静电）等特性 受露、霜、冰的影响的程度。 第17部分：污染、太阳辐射综合试验。目的在于研究仪器，尤其是仪器的表面、涂层或合成材 料短时间内受试剂腐蚀及太阳辐射的抵御能力。 第20部分：含二氧化硫、硫化氢的湿空气。目的在于研究试样的光学、气候、机械、化学和电气 （包括静电）等特性受二氧化硫或硫化氢的影响。 第22部分：低温、高温或温度变化与碰撞或随机振动综合试验。目的在于研究试样的光学、气 候、机械、化学和电气（包括静电）等特性受到综合低温、高温或温度变化与碰撞或随机振动的 影响的变化程度。 第23部分：低压与低温、大气温度、高温或湿热综合试验。目的在于研究试样的光学、气候、机 械、化学和电气（包括静电）等性能特性受到综合低压和低温、常温或高温的影响程度。
光学和光子学环境试验方法 第12部分：污染
本文件描述了光学和光子学污染试验的环境试验方法。 注：本文件中所指的污染”的含义是腐蚀性化学物质1"（以下简称“试剂”)同光学和光子学仪器的接触。 本文件适用于有关光学和光子学仪器，包括来自其他领域（如机械、化学和电子设备)的污染试验。 本文件不适用于作为正常的生产控制。
试验应在GB/T12085.1规定的大气环境条件下进行 在第5章条件试验中列出的试剂表示了不同的化学试剂种类
除相关规范要求整台仪器或部件试验外，试验应采用代表性样品作试样。 非金属涂层试验的试样基片，厚度应大于1mm，试样板按图1中所示尺寸制作。 待试涂层的结构应与仪器或仪器的部件所用涂层结构相同。 注：相关规范也能规定试样板的长度为140mm士2mm或280mm士2mm， 试样在涂层前的表面应与所代表的仪器或部件的表面用同样的方法制备，涂层应完全地覆盖住试 样的表面，特别是边、角和孔的边缘均应覆盖。在涂布涂层前应进行冲孔。涂层的厚度应与仪器或部件 的涂层的厚度相同（偏差不超过5μm）。试样的标记、数字等应在施加涂层前制作好。制备好的试样应 防止污染，直到试验开始。 除图1所示外，合成材料试样试验时的受试面应与所代表仪器零部件的表面一样平整，如受试面上 不能充分地承托试验垫片（见4.3)，应将试样的一半浸没在试剂中，以确保试验符合试验条件的要求。
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毛毡垫片（以下简称“垫片”)应有以下特征并且在试剂中浸透，方可作为试验介质使用： 颜色：白色； 质量密度：0.25g/cm²~0.30g/cm； pH值：58（按附录A所给的方法测量）； 厚度：1mm； 直径：9mm。 垫片应只使用一次
SJ 21536-2018 微波功率器件及集成电路用砷化镓外延片规范4.4试验荷重和试验垫片的放置
如图2所示，在试验持续时间里，应用高级合金钢（如：OCr18Ni9或OCr18Ni10）码对浸湿了试 剂的垫片加压， 使用腐蚀性试剂（如高浓度的酸或酸挥发出来的腐蚀性气体）试验时，应在压上码前用盖帽将 垫片覆盖起来，以防止试剂腐蚀码。盖帽材料采用聚四氟乙烯（PTFE），如图3所示。 垫片在如图1的试样上，按七行分三个暴露区排列，共计21块，各暴露区之间应留有足够的距离， 以防止试剂互相污染。各暴露面应用压敏胶标明所用的试剂和严酷等级，作标记时不允许直接用笔或 类似工具在试样上写字
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