GB／T 14048.12-2016标准规范下载简介

GB／T 14048.12-2016 低压开关设备和控制设备 第4-3部分：接触器和电动机起动器 非电动机负载用交流半导体控制器和接触器

过载性能试验程序要求如下： 1）试验条件： a）参见表8。试验描述见图F.2； b） 控制器和接触器在全导通状态下运行时，除了过电流保护装置外，还利用电流控制型关 断电器进行过载保护时，应与该关断电器一起进行试验。进行本试验时，允许关断电器 在比规定的通电时间短的时间内切换EUT至截止状态。 2） EUT的调整： a）应调整EUT使达到试验电流水平的时间最短； b）具有限流功能的EUT，应调整到I。对应的最大X值。 3） 试验： 建立初始条件； b） 在EUT主电路的输人端子上施加试验电压； （对于型式HrA，串联机械开关电器闭合。对于型式HaB，串联机械开关电器断开。） 试验进行过程中应施加试验电压。 切换EUT至导通状态； d) 导通时间（表8)结束后，切换EUT至截止状态； 注：对于型式HrB，截止状态即为断开状态。 重复程序c)和d)两次，结束试验。 4）验收准则（见9.3.3.6.5）：

e）目测 最后，由于温度过高产生的过度热应力会导致永久损坏。可见的损坏现象（冒烟或变色）即为 最终失效的早期警告，

9.3.4短路条件下的性能

下述条款规定了用于验证是否符合8.2.5.1要求的试验条件。关于试验步骤、试验程序、试后电 件及协调配合类型的具体要求见9.3.4.1和9.3.4.3.

DB31T 329.4-2019 重点单位重要部位安全技术防范系统要求 第4部分：公共供水.pdf9.3.4.1短路试验的一般条件

短路试验的一般条件如下： “O"操作：作为试前条件，控制器/接触器应利用试验负载保持在导通状态。试前电流可以为 大于控制器/接触器最小负载电流（见3.1.11)的任意电流值。闭合短路开关将短路电流施加 至控制器/接触器。SCPD应分断短路电流，而控制器/接触器应耐受允通电流； “CO"操作：用于直接起动设备。 初始壳体温度不应低于40℃。有些情况下，在仅用于短路试验的场地无法预热EUT并保持在初 始壳体温度下，此时，制造商和用户可以协商决定是否在环境温度下进行试验。如果同意在环境温度下 试验，应在试验报告中记录此较低的温度

9.3.4.1.1短路试验的一般要求

9.3.4.1.2验证短路额定值的试验电路

9.3.4.1.3试验电路的功率因数

9.3.4.1.4空自

9.3.4.1.5试验电路的调整

9.3.4.1.6试验程序

9.,3.4. 1.7空自

9.3.4.1.8试验记录说明

9.3.4.3控制器和接触器的限制短路电流

9.3.4.3.1一般要求

9.3.4.3.2额定限制短路电流I。试验

调整电路使预期短路电流I。等于额定限制短路电流

若SCPD为熔断器，且试验电流在熔断器的限流范围内，如有可能，则熔断器应按允许的最大截断 电流I。（根据GB13539.1一2008中的图4)和最大允通I²t值选取。 除了直接接触器外，应在接触器处于全导通状态且SCPD闭合的条件下进行一次SCPD的分断操 作，通过一个单独的开关电器接通短路电流。 对于直接接触器，应通过闭合接触器接通短路电流使SCPD进行一次分断操作

9.3.4.3.3试验结果

根据规定的协调配合类型，若满足下述条件，则认为控制器或接触器通过了预期电流I。试验。 对于两种配合类型： a) 由SCPD或接触器成功分断故障电流，且外壳与电源之间的可熔断元件或固体连接未熔断； b） 外壳的门或盖未被掀开且能够打开，只要外壳防护等级不小于IP2X，允许外壳变形； c）导线或接线端子应无损坏，且导线未与接线端子分离； d）绝缘基座不应有使带电部件安装完整性受到破坏的碎裂； “1”型协调配合 e）部件不应有对壳体外的放电。允许控制器和过电流保护装置受到损坏。试后允许控制器或 触器不能继续操作； “2”型配合 f) 过电流保护装置或其他部件无损坏，试验过程中不允许更换部件；如果容易分离（如用螺丝刀 且无明显变形的话，则混合式控制器和接触器的触头是允许熔焊的，如果出现上述触头熔焊目 情况，电器的功能应在表8中相应使用类别的试验条件下进行10次操作循环（而不是5次） 验证； 短路试验前及试验后，过载继电器均应在一个电流整定值倍数上验证其脱扣特性与所提供白 脱扣性能相符； h) 应通过介电试验对控制器或接触器的绝缘强度进行验证，试验电压按9.3.3.414)的规 施加。

9.4EMC试验的一般要

关的测量结果。 试验报告给出了与试验相关的所有信息（例如负载条件、电缆布置等）。制造商应规定验收判据的 功能性描述及限值，并在试验报告中注明。试验报告应包括任何为符合标准要求而采取的特殊措施，例 如使用屏蔽线或特殊的电缆。为满足抗扰度或发射试验要求所必需的辅助电器及控制器应在报告中说 明。试验应在额定电源电压U。下、以可重复的方式进行。 对于4型控制器，其电力开关元件（例如可控硅)在某些或所有稳态工作方式下并未完全导通，应在 制造商选定的最小导通条件下进行试验，以模拟控制器在最大发射或最敏感条件（见9.4.1）下的工作 能

9.4.1EMC发射试验

9.4.1.1射频传导发射试验

对于某一功率范围的控制器，仅需对该范围内最大和最小功率额定值的两台控制器进行试验即可。 发射不应超过表15的水平。 所有发射试验应在稳态条件下进行。 如果为了满足表15的发射水平要求而必须采用EMC滤波器，则应在试验报告中注明滤波器的参 数值或特性。

表15射频传导发射试验端子骚扰电压限值

注1：在转换频率下，应规定更严格的限值要求，

9.4.1.2射频辐射发射试验

试验描述、试验方法及试验布置见GB4824一2013。 主：在美国，功耗小于6nW的数学式电器不进行RF发射试验， 对于不同功率范围的控制器和接触器，仅需对一台代表性的控制器进行试验即可。 发射不应超过表16规定的限值

表16辐射发射试验限值

测量距离为3m的试验仅适用于小型设备（小型设备指台式或落地式设备（包括其电缆在内），位于直径1.2 距地平面1.5m以内的测试区域内）。

9.4.2EMC抗扰度试验

9.4.2.1静电放电

9.4.2.2射频电磁场

9.4.2.3快速瞬变（5/50ns)

9.4.2.4浪涌（1.2/50μs~8/20μs）

9.4.2.5谐波和转换缺口

无要求，试验水平正在研究中。

9.4.2.6电压暂降和短时中断

9.5常规试验和抽样试验

常规试验是在每台控制器或接触器上进行的试验，在制造过程中或制造完成后进行，以验证其是否 满足规定的要求。 常规或抽样试验应在9.1.2规定的型式试验相同或等效的条件下进行，而9.5.2中的动作范围可在 周围空气温度下及单独的过电流保护装置上进行验证，但可能需要对正常使用温度条件下的情况进行 校正。

9.5.2动作和动作范围

应验证设备的工作符合8.2.1.2和8.2.1.5的要求。 8.2.1.2规定的功能根据表9和9.3.3.6.4的要求采用关断和转换能力试验进行验证，需要进行2次 操作循环，一个为85%U。和85%U，，另一个为110%U。和110%Us。 应进行下述2项试验： a）应按照表9的规定进行关断和转换能力试验验证功能性。 进行2次操作循环，一次在85%U。和85%U，条件下进行，一次在110%U。和110%U，条件 下进行。制造商规定的各项功能不允许丧失。 D) 应验证设备是否按照8.2.1.5的规定动作。

注2：上面的圆点代表顺序号，根据应用情况添上相应的数字 转换触头元件电路接线端子应用功能数1、2和4标志

数5和6（用于分断触头）、7和8（用于接通触头）表示为包含具有特殊功能的辅助触头的辅助 接线端子。

5106 触头延时闭合 接触触头廷时闭

:71.8 触触头延时闭仓

具有特殊功能的转换触头元件电路的接线端子，应用功能数5，6和8标志。 例如：

属于同一触头元件的接线端子应用相同的序列数标出。 所有的具有相同功能的触头元件应有不同的序列数。 如果制造商提供的附加信息明确规定了序列数，则端子标志可省略序列数。 例如：

在两个方向上都有延时作用的转换触头

附录B （规范性附录） 控制器和接触器的典型使用条件

B.2放电灯的通断控制

半导体接角 白炽灯的灯丝短路会造成巨大的过电流流过串联开关电器，这种情况属于短路。半导体接触器和 短路保护电器（SCPD可与灯合为一体）的协调配合见8.2.5。

由于与变压器接通有关的高瞬态涌流与瞬时电流流通时所施加电压的导通角度密切相关，因此 采用具有在指定点通断及特殊的斜坡上升通断功能的半导体接触器来最优化变压器负载的通断（浪涌 限制）

（资料性附录） 操作性能

图F.1热稳定试验描述

GTCC-052-2018 透镜式色灯信号机构-铁路专用产品质量监督抽查检验实施细则图F.2过载性能试验描述

图F.3关断和转换能力试验描述

说明： EUT——被试电器（包括连接电缆）。 注：轮腕图包括金属丝网或外壳。

附录I （规范性附录） 半导体控制器和接触器短路试验的修正试验电路

图I.1半导体电器短路试验的修正试验电路

所示为半导体控制器短路试验时仅对标准试验电路中的一相做改动。多极电器进行试验时DB34／T 2845-2017 大型游乐场所防雷技术规范， 修改方法均相同。唯一的改动见图1.2所示，

图L.29.3.4.1.6短路试验的时间曲线

附录J （资料性附录） 旁路半导体控制器试验设计流程图