GB／T 4937.3-2012标准规范下载简介

GB／T 4937.3-2012 半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分：外部目检

ICS31.080.01 40

MH5023-2006民用航空支线机场建设标准2015-07-01修订.pdf中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布 中国国家标淮化管理委员会

半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分：外部目检

有关的采购文件应规定如下的内容： a）标志和引出端标识要求[见第4章a)]; b）材料、设计、结构和工艺质量的详细要求[见第4章a)}； c)样本大小。