YD/T 3349.2-2018 接入网用轻型光缆 第2部分:束状式.pdf

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YD/T 3349.2-2018 接入网用轻型光缆 第2部分:束状式.pdf

5.3.2计米标志误差

度计量误差应是在适当长度上,例如在距离光缆端头15m以外的任意5m长度上,用钢皮尺 得长度减去用计米数字确定的长度(见4.3)对后者的相对差

缆长度应从光缆两端的计米标志(有黄、白两色标志时以黄色为准)的数字差来确定,也可采月 法(如OTDR仪器)来测量。

JGJ242-2011 住宅建筑电气设计规范.pdfYD/T 3349.22018

5.5光缆的机械性能试验

下列规定的各试验方法及其试验条件用于验证光缆的机械性能,其试验结果符合规定的验收要求 时,判为合格。 机械性能试验中光纤衰减变化的监测宜按YD/T629.1规定在1550nm波长上进行,在试验期间,监 测系统的不确定度应优于0.03dB。试验中光纤衰减变化量的绝对值不超过0.03dB时,可判为无明显附 加衰减。允许衰减有某数值的变化时,应理解为该数值已包括不确定性在内。 光纤拉伸应变宜采用GB/T15972.22一2008附录C规定的相移法进行监测,监测系统的不确定度应 优于0.01%,试验中监测到的光纤应变不大于0.01%时,可判为无明显应变。光缆拉伸应变应采用机械 方法或传感器方法进行监测,其系统的不确定度应优于0.05%,试验中监测到的光缆应变不大于0.05% 时,可判为无明显应变。 除非另有规定,对于12芯及以下的光缆,应监测全部光纤,对于12芯以上光缆,应监测至少12 根光纤。监测的光纤宜均匀分布于光缆中各个松套管。

试验细节规定如下: a)试验方法:GB/T7424.2一2008方法E1(拉伸性能); b)卡盘直径:不小于30倍光缆外径; c)受试长度:不小于50m; d)拉伸速率:10mm/min e)拉伸负载:见表5; f)持续时间:1min; g 验收要求:在长期允许拉力下光纤应变不大于0.2%,且无明显的附加衰减;在短暂允许拉力 下光纤应变不大于0.6%,且光纤附加衰减应不大于0.1dB;在拉力去除后,光纤应无明显的 残余附加衰减和应变:护套应无且力可见开裂,

试验细节规定如下: a)试验方法:GB/T7424.2—2008方法E3(压扁); b)负载:见表5; c)持续时间:1min; d)验收要求:在长期允许压扁力下光纤应无明显附加衰减;在短暂压扁力下光纤附加衰减应不大 于0.1dB,在此压力去除后光纤应无明显残余附加衰减 护套应无自力可见开裂

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b)冲锤重量:对于外径在7mm及以下的光缆为200g,7mm以上的为450g c)冲锤落高:1m; d)冲锤冲击面曲率半径:12.5mm; e)冲击次数:在相距不少于500mm的5个点上各冲击1次: f)验收要求:光纤应无明显残余附加衰减;护套应无目力可见开裂。 注。对于扇平形或椭圆形光缆。外径应按扁平面或短轴面高度计算,

试验细节规定如下: a)试验方法:GB/T7424.2—2008方法E6(反复弯曲); b)心轴半径:不大于表6规定的动态允许弯曲半径; c)负载:150N; d)弯曲次数:30次; e)验收要求:光纤应无明显残余附加衰减;护套应无目力可见开裂;防蚁外套应与其下面的聚乙 烯套无目力可见的分层。 注:对加强构件平行放置的光缆,弯曲应沿着平行加强构件所构成的平面进行

试验细节规定如下: a)试验方法:GB/T7424.2—2008方法E7(扭转); b) 轴向张力:150N; c)受扭长度:1m; d)扭转角度:±180°; e)扭转次数:10次; f 验收要求:在光缆扭转到极限位置下光纤应无明显附加衰减,光缆回复到起始位置下应无明显 残余附加衰减,护套应无目力可见开裂;防蚁外套应与其下面的聚乙烯套无目力可见的分层; 对于W类护套光缆和P类护套光缆,平行加强件处护套应无目力可见凹陷。

试验细节规定如下: a)试验方法:GB/T7424.2一2008方法E11(弯曲)中程序1; b)心轴直径:不大于表4规定的静态允许弯曲半径的两倍; c)密绕圈数:每次循环10圈; d)循环次数:5次; e)验收要求:光纤不断裂和护套无目力可见开裂;防蚁外套应与其下面的聚乙烯套无目力可见的 分层。

试验细节规定如下: a)试验方法:GB/T7424.2一2008方法E11(弯曲)中程序1; b)心轴直径:不大于表4规定的静态允许弯曲半径的两倍; c)密绕圈数:每次循环10圈; d)循环次数:5次; e)验收要求:光纤不断裂和护套无目力可见开裂;防蚁外套应与其下面的聚乙烯套无目力可见的 分层。

试验细节规定如下: a)试验方法:GB/T7424.2—2008方法G7(套管弯折); b)试验中各参数要求见表10所示; c)验收要求:松套管不发生弯折。

松套管弯折试验参数要

5.6光缆的环境性能试验

5.6.1温度循环试验

试验按GB/T7424.2一2008中方法F1(温度循环)进行,其中细节规定如下。 a)试样长度:应足以获得衰减测量所需的精度,宜不小于2km。 b)温度范围:试验温度范围的低限TA和高限TB应符合表6规定。 c)保温时间:t1应足以使试样温度达到稳定,且应不少于12h。 d)循环次数:2次。 e)衰减监测:宜按YD/T629.2的规定,在试验期间,监测仪表的重复性引起的监测结果的不确 定度应优于0.02dB/km。试验中光纤衰减变化量的绝对值不超过0.02dB/km时,可判为衰减 无明显变化。允许衰减有某数值的变化时,应理解为该数值已包括不确定度在内。B1.1类、 B1.3类和B6类光纤的衰减变化监测应在1310nm和1550nm两波长上进行,并以其中较差的 监测结果来评定温度附加衰减等级。 注:上述监测波长中如有用户不要求使用的波长,可不监测。 f)验收要求:应符合表7规定。

5.6.3低温下U型弯曲试验

b)样品长度:几米短段; c)弯曲半径:15倍光缆直径; d)循环次数:4次; e)验收要求:光纤不断裂和护套无 力可见开裂。

样品长度:儿米短段; 弯曲半径:15倍光缆直径; 循环次数:4次;

5.6.4低温下冲击试验

制造厂应建立质量保证体系,使光缆产品质量符合本标准要求。出厂前,光缆产品应经质量检验部 门进行检验,检验合格者方可出厂。每件出厂交收的光缆产品应附有制造厂的产品质量合格证。厂方应 向用户提交产品的出厂检验记录,其中应包括表9中各出厂检验项目的实测值。如用户有要求时,厂方 应提供光缆的光纤等效群折射率,同时还应协商提供其他有关试验数据。 光缆产品检验分出厂检验和型式检验。检验项目和试验方法应符合表9规定。 除非在订货合同中另行规定,检验规则应按照本章规定,同时应按照GB/T8170一2008采取先修约 后比较的方法进行测量值对标准值的比较。

一个单位产品应是一盘允许交货长度的光缆。

出厂检验批应由同时提交检验的若干 产品组成,这些单位产品应是在同一

一个样本单位是从检验批中随机抽取的一个单位

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出厂检验项目应符合表9规定。

6.3.2抽样方案和判定规则

6.3.2.1100%的检验项目中,被检试样如有任何一项不合格时,则判该样本单位为不合格品,不合格 品应从检验批中剔除,不允许出厂。 6.3.2.2抽样检测项目按照表9规定的比例,根据检验批的大小,进行随机抽样检验,每批至少抽1 个样本单位。抽样检测的被试样本单位如有不合格项目时,可重新抽取双倍数量的样本单位就不合格项 目进行检验,如果检验合格,则该检验批合格,如仍有不合格项目时,则该检验批不合格。 6.3.2.3检验样本单位内的光纤特性时,待测光纤数应按光缆内的光纤数和表11规定来确定。这些 待测光纤应在随机的原则下分布于不同的松套管和各不同颜色。如果是光纤某个特性不合格,应取双倍 数量样本单位中的全部光纤就不合格光纤特性进行检测。如合格,则光纤该检验项目合格,如不合格, 则光纤该检验项目不合格。

表11样本单位内的光纤抽样

6.3.3不合格样本单位的处理

不合格的检验批不允许出厂。不合格检验批中,如果样本有可能修复或去除缺陷部分后,仍然符合 交货长度要求时,可重新单独提交检验。重新检验时应和新的检验批分开,并作上标记。重新检验项目 应包括原不合格项目和其他有关项目。

型式检验是对产品质量进行全面考核,检验项目应包括表9所列全部项目,并且应在抽取的 经出厂检验合格后,再进行其他项直的检验

光缆产品在下列情况之一时,应进行型式检验

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a)光缆产品试制定型鉴定时; b)正式生产后,如结构、材料、工艺有较大改变,可能影响产品性能时; c)正常生产时,每一年应进行一次; d)停产半年以上,恢复生产时; e)出厂检验结果与上次型式试验有较大差异时; f)太批量产品的用户要求在验收中进行型式检验时

一般情况下,每次检验应从检验批中随机抽取每种型式1个样本单位进行试验,其规格应有代表性, 并且光缆中的光纤特性检验的抽测数应是表11规定的两倍。但是,在定型鉴定时,抽样方案可由主管 部门决定

如果被抽取检验的样本单位有出厂检验项目不合格时,充许重新抽取新的样本单位重新检验。如果 1个样本单位未能通过其他检验的任一项试验,则应判定为型式检验不合格。但是,允许重新抽取双倍 样本单位就不合格项目进行试验,如果都能通过试验,则可判定为型式检验合格;如果仍有任一个不能 通过试验,则应判定为型式检验不合格,

如果型式检验不合格,制造广应根据不合格原因,对全部产品进行改正处理。在采取可接受的改进 措施以前,应停止产品鉴定或验收。在采取改进措施之后,应重新抽样进行型式检验,对新的样本单位 重做全部试验,但是,经主管部门决定或经交收双方商定,可酌情减少部分已合格的试验项目。

6.4.6样本单位处理

经通过型式检验的样本单位,如果是短段试样,不能作成品交货;如果是在端部进行试验的大长 (例如标准制造长度),切除由于进行压扁、冲击、扭转等试验产生的缺陷部分后,只要符合交 规定,可作为成品交货。

7.1.1光缆产品应装在光缆交货盘上出厂。盘装光缆每盘只能是一个出厂长度,光缆盘的筒体直径应 不小于光缆的动态弯曲直径。光缆盘应符合JB/T8137规定。 7.1.2光缆两端应密封以防潮气侵入或机械损坏光纤。光缆两端应固定在盘子内,其内端应预留1.5m 以上的移出长度,以供测试之用。

7.1.4本部分所规定的光缆产品无端别标

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7.1.5光缆盘上应标明

a)制造厂名称、产品商标、采用标准; b)光缆标记、出厂序号; c)光缆长度,m; d)毛重,kg; e)制造年、月; f)表示缆盘正确滚动方向的箭头; g)保证贮运安全的其他标志。

a) 制造厂名称、产品商标、采用标准; b)光缆标记、出厂序号; c)光缆长度,m; d)毛重,kg; e)制造年、月; f)表示缆盘正确滚动方向的箭头; g)保证贮运安全的其他标志。

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分中适用的单模光纤按其性能要求的差异可分成若干类别,包括:B1.1类、1.3类;B6类(分 B6.a2、B6.b2 和 B6.b3 四个子类)。

B.2模场直径和尺寸参数

光纤的模场直径和尺寸参数应符合表B.1的规定

表B.1单模光纤模场直径和尺寸参数

光纤的宏弯损耗应符合表B.2规定。

表B.2光纤宏弯损耗

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表B.2光纤宏弯损耗(续)

B.5.1.1衰减系数

单模光纤的衰减系数在规定的使用波长上应符合表B.3的规定。

注1:B1.1类光纤不能在1383nm区使用,表中1383nm的规定不适用于B1.1类光纤。 注2:产品只在用户有要求的使用波长上进行检验。 注3:衰减分级用以适用不同用户的要求,当用户有要求时也可是其他衰减要求

B.5.1.2波长附加衰减

单模光纤在用户有要求的使用波长区内相对于其中心波长的附加衰减系数在规定的使用波 立符合表B.4的规定。

表B.4波长附加衰减系数

B.5.1.3衰减不连续性

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纤连续长度上应无天于0.1dB的不连续点。B1.1、B1.3、B6类光纤测试波长为1310nm和1550nm。

B.5.2.1B1.1类单模光纤

类单模光纤的色散特性要求应符合表B.5的规

JGT341-2011 建筑用纱门窗表B.5B1.1类单模光纤的色散特性要求

类单模光纤的色散特性要求应符合表B.6的规定

31.3类单模光纤的色散特性要求应符合表B.6的规定

表B.6B1.3类单模光纤的色散特性要求

GB/T 38665.2-2020标准下载B.5.2.3B6类单模光纤

B6类单模光纤的色散特性要求应符合表B.7的规定

表B.7B6类单模光纤的色散特性要求

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