GB/T 17626.3-2016 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验.pdf

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GB/T 17626.3-2016 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验.pdf

ICS 33.100.20 L06

电磁兼容试验和测量技术

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布 中国国家标准化管理委员会

试验和测量技术》目前包括以下部分:

GB/T 21296.3-2020 动态公路车辆自动衡器 第3部分:轴重式.pdf抗扰度试验总论; 静电放电抗扰度试验; 射频电磁场辐射抗扰度试验; 电快速瞬变脉冲群抗扰度试验; 浪涌(冲击)抗扰度试验; 射频场感应的传导骚扰抗扰度; 供电系统及所连设备谐波、谐间波的测 工频磁场抗扰度试验; 脉冲磁场抗扰度试验; 术 :阻尼振荡磁场抗扰度试验; 或术电压暂降、短时中断和电压变化抗扰 术 振铃波抗扰度试验; 术交流电源端口谐波、谐间波及电网信 术 电压波动抗扰度试验; 术 闪烁仪功能和设计规范; 术 :0Hz~150kHz共模传导骚扰抗扰度 术 直流电源输入端口纹波抗扰度试验; 术横电磁波(TEM)波导中的发射和抗 木 混波室试验方法; 技术 HEMP传导骚扰保护装置的试验 术 三相电压不平衡抗扰度试验; 术 工频频率变化抗扰度试验; 术 直流电源输人端口电压暂降、短时中 术 电能质量测量方法; 术 1 主电源每相电流大于16A的设备的

本部分为GB/117626的第3部分 本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。 本部分代替GB/T17626.3一2006《电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验 GB/T17626.3一2006相比,主要技术内容变化如下:

电磁兼容试验和测量技术

下列术语和定义适用于本文件。 3.1 调幅amplitudemodulation 载波幅度按给定规律变化的过程。 3.2 电波暗室anechoicchamber 安装吸波材料用以降低内表面电波反射的屏蔽室。

预带frequency band

两个限定的频率点之间频率延伸的连续区间。 3.10 E 校准用场强。

VmaximmRMS=Vg/(2×√2)=1.8V

相对于调制信号幅度不变的恒包络调制,在调制过程中,若相位突变(180°)时,经过带限处理后导 致非恒包络,此时的信号处理即为非恒定包络调制。 RF调制方案,选择在时间上,载波的幅值相对于其周期变化缓慢的RF调制方案。例如,包括常规 幅度调制及时分多址调制。 3.20 P 产生校准场强所需的前向功率

于调制信号幅度不变的恒包络调制,在调制过程中,若相位突变(180°)时,经过带限处理后导 络,此时的信号处理即为非恒定包络调制。 用制方案,选择在时间上,载波的幅值相对于其周期变化缓慢的RF调制方案。例如,包括常规 及时分多址调制

照射partialilluminat

EUT的被测试面不能完全被UFA所覆盖的试验方法(使用最小尺寸为1.5mX1.5m的UFA

收发机transceiver 共用一个外壳的无线电发射和接收的组合设备。 27 均匀场域uniformfield area;UFA 场校准的假想垂直平面,在该平面内场强的变化足够小。 场校准的目的在于确保试验结果的有效性。见6.2

试验等级在表1中列出。

本部分不建议在整个频率范围内应用单一的试验等级。有关专业标准化技术委员会应为每段需要 试验的频率范围选择适合的试验等级。附录E给出了有关专业标准化技术委员会选择试验等级的指 导意见。 表中试验场强列出的是未调制载波信号的场强。对设备测试时,要用1kHz的正弦波对未调制载 波信号进行80%的幅度调制来模拟实际情况(见图1),详细试验步骤见第8章

推荐下列类型的试验设备: 电波暗室:具有合适的尺寸桥梁防撞护栏施工方案,能维持相对于EUT来说具有足够空间的均匀场域。局部安装一些吸 收材料可以使室内的反射减弱。 电磁干扰(EM1)滤波器:应注意确保滤波器在连接线路上不致引起谐振效应,

射频信号发生器:产生的信号能够覆盖所有测试的频带,并能被80%调制深度的1kHz正弦波幅 度调制。应有手动控制功能(例如,控制频率,幅度,调制深度),或在带有频率合成器的情况下,它们应 具有频率步进和驻留时间的程控功能。 为了避免谐波导致的问题,必要时采用低通或带通滤波器, 功率放大器:用于放大信号(未调制的和调制的)并提供驱动天线达到所需的场强水平的功率。在 UFA中测得的功率放大器产生的各次谐波场强应比基波场强至少低6dB(见附录D)。 场强发射天线(见附录B):能够满足频率特性要求的双锥、对数周期,喇叭或其他线性极化天线 系统。 各向同性场强传感器:带有对被测场强有足够抗扰度的前置放大器和光电转换装置及与暗室外的 指示器相连的光缆,其他信号连接方式只要经过充分滤波也是可以使用的。附录1提供了电场探头的 校准方法。 辅助设备:用于记录试验规定场强所需的功率电平和控制产生试验场强的电平。 应注意确保辅助设备具有充分的抗扰度

由于试验所产生的场强高,应在屏蔽室中进行试验,以便符合有关禁止对无线通信干扰的规定。大 多数采集数据的设备对抗干扰试验过程中所产生的电磁场很敏感,因此需要用屏蔽室在EUT与测试 义器之间提供一层“屏障”。应注意确保穿过屏蔽室的连线的传导和辐射有充分的衰减,以保证EUT的信 号和功率响应的真实性。 试验设施为安装有吸波材料的屏蔽室,且屏蔽室应具有足够的空间以安放EUT,并对试验场强有 充分的控制能力。包括电波暗室或调整后的半电波暗室,图2给出了一个示例。相关屏蔽室应适合于 安放发生场强的设备、监视设备和遥控EUT的装置。 电波暗室在低频时效果不佳,应特别注意确保低频时产生场强的均匀性。详细导则见附录C

场校准的目的是为确保EUT周围的场充分均匀,以保证试验结果的有效性。本部分中使用“均匀 场域”的概念(见图3),这是一个场的假想的垂直平面,在该平面中场的变化足够小。在校准过程中,要 求测试装置和设备有产生这样的一个场的能力。同时,得到一个产生抗扰度测试所要求的场强的设置 的数据库。场校准对所有的单个面可以全部被UFA覆盖的EUT都是有效的。 场校准在无EUT的场地上进行(见图3)。在该过程中,UFA的场强和输出给天线前向功率的关 系是确定的。在测试的过程中,前向功率通过这个确定的关系和目标场强计算出来。只要测试布置不 发生改变,该校准是一直有效的。因此应记录校准的布置(天线,增加的吸波材料,电缆等)。尽量准确 地记录天线和电缆位置是重要的。即使是很小的移动也可能对场的分布产生很大的影响,因此在每次 测试时都应使用相同的位置。 用于试验的整个区域的校准应每年进行一次,当室内布置发生变化时(更换吸波材料、试验区域位 置移动、设备改变等)也应进行校准。在每一批试验前(见第8章),应确认校准的有效性。 天线放置的距离应能使UFA处于发射场的主波瓣宽度之内的。场强传感器至少距离场发射天线 1m以上。UFA与发射天线的距离最好为3m(见图3)。该距离是从指双锥天线的中心,或对数周期 天线的顶端,或喇叭天线的前沿,或双脊波导天线的前沿到UFA的距离。校准记录和测试报告中应说 明采用的距离。 除非EUT及其线缆可以被一个小的面积完全照射,否则UFA的尺寸至少为1.5mX1.5m,UFA的 下端距离地面的高度为0.8m。任何情况下,UFA不得小于0.5m×0.5m。在抗扰度测试的过程中, EUT的面应被UFA完全覆盖(见图5和图6)。

为了确定测试的严酷度等级,对于某些接近参考地平面放置的EUT和电缆必须测试,此时还要记 录离参考地平面上方0.4m高处的场强。在校准文件中记录的该数据不用于试验设施适用性判断,也 不纳入校准数据库。 由于半电波暗室地面的反射,很难在靠近参考地平面处建立一个UFA。在参考地平面放置辅助吸 波材料可能解决这个问题(见图2)。 将UFA分割成间距为0.5m的一系列小格(见图4,1.5mX1.5mUFA的举例)。在每个频点,所 有栅格点中有75%的点测得的场强幅值为标称值一0dB~十6dB范围内的值(例如,如果1.5mX1.5m UFA测量的至少16个点中的12个点在容差范围内),即认为该场是均匀的。对于0.5m×0.5m最小 的UFA,所有4个栅格点的场强值都应在容差范围内。 注1:在不同的频率点,容差范围内的测试点可能不同 一0dB~十6dB作为容差范围,是为确保场强不会在可接受的概率下降到标称值以下。6dB容差 是在实际测试设备中可实现的最小范围。 当频率范围达到1GHz时,容差可大于十6dB,达到十10dB,但是不能小于一0dB,允许调整容差 的频率点数量不得超过整个测试频率点的3%,在测试报告中记录真实的容差。有争议时,优先考虑 0dB~+6dB。 如果EUT需要被照射的表面大于1.5m×1.5m,且UFA最大的尺寸(推荐方法下)不能覆盖,可 对EUT表面进行一系列的照射测试(“部分照射”)。 两者选其一: 辐射天线应在不同的位置进行校准,使得组合后的多个UFA覆盖EUT的表面,然后依次在 这些位置上对EUT进行试验。 一 将EUT移到不同位置,在试验中使EUT的每个部分至少处于UFA一次。 注2:每个天线位置都要求整个区域的场校准。 表2中给出了完全照射和部分照射的概念·以及给出怎样应用的说明

、部分照射和独立窗口法的均匀场

如果只能在某个极限频点(高于1GHz)以下的频段满足本节的要求,例如由于天线波瓣不足以照 射整个EUT,则当高于这个极限频点时,可以使用第二个替代方法一独立窗口法HG T20645.2-2022化工装置管道机械设计规定:工程设计规定.pdf,在附录H中有 详述。 通常按图7所示的布置对电波暗室和半电波暗室进行场的校准。应按下述的步骤用未调制的载波 分别对水平和垂直极化方向进行校准。要求确认功率放大器可以响应信号的调制且在测试过程中不会 达到饱和。确认功率放大器不会达到饱和的推荐方法是:校准用的场强应至少为将要施加给EUT场 强的1.8倍。用E。表示该校准场强,E。为仅校准时施加的场强,试验场强E,不超过E。/1.8。 注3:可使用其他确保不饱和的校准方法。 下述两种不同的校准方法,以1.5m×1.5m的UFA为例说明。这两种方法得出的场均匀性是相 同的。

6.2.1恒定场强校准方法

均匀场的恒定场强的建立和测试是按第8章规定的步骤,通过一个校准过的场强探头,在每个特定 调节正向功率,依次对16个栅格点的每个点(见图4)进行校准。 应按图7确定测量场强所选择的正向功率,16个测量点以dBm为单位进行记录。 水平和垂直极化方向的校准程序如下: a)将场强探头置于16个栅格点的任意一点上(见图4),将信号发生器输出的频率调至试验频率 范围的下限频率(例如80MHz)。 b)调节场发射天线的正向功率,使所得场强等于校准场强E。,记录正向功率读数。 c)以当前频率的1%为最大增量来增加频率。 d)重复步骤b)和c),直至下一频率超过试验频率范围的上限频率。最后在此上限频率(例如 1GHz)处重复步骤b)。 e)对每一栅格点重复步骤a)~d)。 在每一频率点上进行如下程序校准: f)将16个点的正向功率读数按升序排列。 g)从最大读数开始检查,向下至少应有11个点的读数在最大读数的一6dB~十0dB容差范 围内。 h)若没有11个点的读数在一6dB~十0dB容差范围内,按同样的程序向下再继续检查读取的数 据(对每个频率仅可能有5个点不在一6dB~十0dB容差范围内)。 , 2 如果至少有12个点的读数在6dB范围内则停止检查程序,记录这些读数的最大正向功率值, 前向功率用P。表示。 1) 2 确认测试系统(例如功率放大器)未处于饱和状态。假定E。选择1.8倍E,在每个校准频点按 以下程序操作: 1)建立前向功率P。[正如1)所述]所需的电平后,信号源输出电平降低5.1dB(一5.1dB即 E/1.8); 2)记录输出到大线的新的前向功率; 3)用P。减去步骤2)中测到的前向功率。如果差值在3.1dB~5.1dB之间,则功率放大器 未饱和且系统可用于测试。如果差值小于3.1dB,则功率放大器饱和且不适合测试。 注1:若在某一特殊频率点,E.与E,之间的比为R(dB),R=20lg(E。/E,),则试验功率P.=P.一R(dB),下标c和t分 别代表校准和试验。按第8章的规定进行场的调制。 D.4.1给出了此校准的一个示例。 注2:应确保使用的功率放大器在每一频率均未饱和,这可以通过检查功率放大器的1dB压缩点来进行确认。可通 过使用点频率来检查功率放大器是否饱和。然而,功率放大器的1dB压缩点是通过端接50Ω检查,而测试时

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