GB 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量 泊松比测试方法 更新时间:2009年12月10日 资源 GB 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量 泊松比测试方法 资源丢失 仅供个人学习 反馈 标准编号:GB 5594.2-1985 文件类型:.rar 资源大小:0.09 MB 标准类别:国家标准 资源ID:80625 下载资源 GB 5594.2-1985标准规范下载简介 GB 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量 泊松比测试方法 化工标准 广播电影标准 船舶标准 旅游标准 医药标准 机械标准 烟草标准 石油化工标准 冶金标准 卫生标准 航空工业标准 ©版权声明 资源来自互联网,如有侵权请联系删除 同类资源: 上一篇 GB 5594.1-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法 下一篇 GB 5594.3-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法 相关文章