GB 5594.8-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定 更新时间：2009年12月10日 资源 GB 5594.8-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定 资源丢失 仅供个人学习 反馈 标准编号：GB 5594.8-1985 文件类型：.rar 资源大小：0.08 MB 标准类别：国家标准 资源ID：80630 下载资源 GB 5594.8-1985标准规范下载简介 GB 5594.8-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定 建筑工业标准 兵工民品标准 有色冶金标准 国家标准 化工标准 地质矿产标准 气象标准 环境保护标准 铁路运输标准 医药标准 核工业标准 ©版权声明 资源来自互联网，如有侵权请联系删除 同类资源： 上一篇 GB 5594.6-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 化学稳定性测试方法 下一篇 GB 5598-1985 氧化铍瓷导热系数测定方法 相关文章
