QJ 2689-1994 电子元器件中多余物的X射线照相检验方法 更新时间：2011年03月12日 资源 QJ 2689-1994 电子元器件中多余物的X射线照相检验方法 立即下载 仅供个人学习 反馈 标准编号：QJ 2689-1994 文件类型：.rar 资源大小：0.51 MB 标准类别：航天工业标准 资源ID：108613 下载资源 QJ 2689-1994标准规范下载简介 QJ 2689-1994 电子元器件中多余物的X射线照相检验方法 商检标准 WH文化标准 有色冶金标准 汽车标准 城镇建设标准 海关标准 轻工标准 铁路运输标准 民用航空标准 气象标准 水利标准 ©版权声明 资源来自互联网，如有侵权请联系删除 同类资源： 上一篇 QJ 2671-1994 进口电子元器件质量管理要求 下一篇 QJ 2694A-2005 QJ2694A-2005 相关文章
