标准规范下载简介

SJ／T 11766-2020 光电耦合器件低频噪声参数测试方法.pdf

ICS31.080.01 L:50

中华人民共和国工业和信息化部 发布

明珠花园南区高层2#楼施工组织设计SJ/T117662020

SJ/T117662020

SJ/T 117662020

SJ/T 117662020

电耦合器件低频噪声参数测试方

本标准规定了光电耦合器件（以下简称光耦）1Hz300kHz频率范围内噪声参数测试方法及要求。 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。 凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件： SJ/T2215半导体光电耦合器测试方法 SJ/T11769电子元器件低频噪声参数测试方法通用要求 术语和定义 测试条件及要求 除SJ/T11769的通用要求外，光耦的低频噪声测试条件还应符合下列要求： a）光耦的低频噪声参数包括噪声电压功率谱密度和噪声电压。 b）光耦的低频噪声测试的偏置电流、偏置电压、偏置电路等测试条件按照产品详细规范确定。除 另有规定外，光耦参数电流传输比的测试条件作为低频噪声参数测试的测试条件。 测试系统的构成及要求 5.1通则 光耦低频噪声参数测试系统的构成及要求应符合SJ/T11769的规定。 5.2测试偏置电路

黑低频噪声参数测试系统的构成及要求应符合SJ/T

光耦器件低频噪声测试偏置电路原理如图 耦的输出端提供偏置电压，光耦输出端的噪声电压接入到低噪声前置放大器，低噪声前置放大器的十/ 一表示信号的同向输入端/反向输入端。RL为负载电阻，Rr为限流电阻。

【工艺标准】振冲地基施工工艺标准SJ/T 117662020

测试数据的记录符合下列要求！

SJ/T117662020

测试记录包括：测试环境条件、产品型号规格、批号、编号，输入端电压、输入端电流、输出 端电压、输出端电流，噪声电压功率谱密度、噪声电压等参数。 h）按照被测光耦器件对应型号产品详细规范规定的要求，形成测试报告。

测试记录包括：测试环境条件、产品型号规格、批号、编号，输入端电压、输入端电流、输出 端电压、输出端电流，噪声电压功率谱密度、噪声电压等参数。 按照被测光耦器件对应型号产品详细规范规定的要求，形成测试报告。

SJ/T 117662020

金鑫大厦悬挑架施工方案附录A （资料性附录） 典型测试图谱

图A.2光耦的噪声电压时间序列

件的噪声电压时间序列图谱如图A.2所示，采集时