JJF 1932-2021 椭偏仪校准规范.pdf

JJF 1932-2021 椭偏仪校准规范.pdf
仅供个人学习
反馈
标准编号:JJF 1932-2021
文件类型:.pdf
资源大小:12.9 M
标准类别:电力标准
资源ID:349269
下载资源

JJF 1932-2021标准规范下载简介

JJF 1932-2021 椭偏仪校准规范.pdf

JIF19322021

JIF19322021

生物池闭水试验施工方案Calibration SpecificationforEllipsometers

国家市场监督管理总局发布

椭偏仪校准规范 Calibration Specification for Ellipsometers

归口单位:全国光学计量技术委员会 主要起草单位:中国计量科学研究院 中国兵器工业第二O五研究所 参加起草单位:中国电子科技集团公司第四十一研究所 上海市计量测试技术研究院 陕西省计量科学研究院

规范委托全国光学计量技术委员会负

主要起草人: 刘文德(中国计量科学研究院) 陈赤 (中国计量科学研究院) 王雷(中国兵器工业第二〇五研究所) 参加起草人: 孙权社(中国电子科技集团公司第四十一研究所) 叶军安(上海市计量测试技术研究院) 李奕(陕西省计量科学研究院)

JF1001《通用计量术语及定义》、JJF1059.1《测量不确定评定与表示》和 JJF1071《国家计量校准规范编写规则》共同构成支撑本规范编订的基础性系列规范。 本规范为首次发布

3. 1 人射面plane of incidence

图1 入射面和椭偏角示意图 —样品表面法线;6一人射角;r、r,一s、p偏振复振幅反射系数的模 8.、8,一s、p偏振复振幅反射系数的相位

3.2椭圆偏振角ellipsometricangle(亚,△)

能够产生特定偏振态光的装置,在椭偏仪中常为线偏振起偏器,或起偏器与延迟 组合。

rization stateanalyze

能够部分或完全确定入射光偏振态参数的装置,在椭偏仪中常为线偏振检偏器,或 检偏器与延迟器的组合。

偏仪常用于微电子、光电子、薄膜光学、偏振光学等领域的椭偏角光谱测量与分 析,按工作原理、结构形式等,可划分为反射、透射式,或单波长、多波长、光谱式, 或消光式、旋转偏振光学元件式、相调制型等,或固定入射角、可变入射角式,等等。 椭偏仪测量椭偏角的基本原理是,由仪器发出特定偏振态的偏振光,经被测对象表面反 射(透射)后,再经偏振、相位延迟元件获得光强度的变化,经仪器分析得到椭偏角。 现代椭偏仪一般由准直光源、偏振态发生器、偏振态分析器、(分光)探测系统、样品 台、样品对准系统以及计算机组成,如图2所示。 根据光与物质相互作用的物理模型建立描述偏振态变化的数学模型,可由椭偏角反 演分析物理模型的参数,得到材料、表面等被测对象的性质。由于物理模型常常不唯 一,模型的人为选择等因素也会影响分析结果,因此基于椭偏光谱的椭偏仪校准是所有 分析的前提和保障。

图2椭偏仪结构示意图(反射模式) 1一准直光源;2一偏振态发生器;3一偏振态分析器;4一(分光)探测系统; 5一被测样品:6一样品台:7一样品对准系统

1一准直光源;2一偏振态发生器;3一偏振态分析器;4一(分光)探测系统 5一被测样品:6一样品台:7一样品对准系统

图2椭偏仪结构示意图(反射模式)

对光谱式椭偏仪:在(250~850)nm波段,不超过士0.5nm(光谱扫描式)或 ±1. 0 nm(多通道式);在(850~2 000)nm 波段,不超过±4.0 nm。

一般不超过士10nm。

一般不超过士0.05°

5.4椭偏角测量重复性

以空气为自然基准测量,在(400~800)nm波段,亚和△的测量重复性一般不超 过土0.03°;其他波段,测量重复性一般不超过士0.06°

5.5波片延迟量示值误差

在633nm波长测量椭偏角标准样品时,亚和△的示值误差不超过士0.5° 以上指标不适用于合格性判别,仅供参考。

6.1.1环境温度:(20士5)℃。 6.1.2相对湿度:不大于80%。 6.1.3电源电压:(220士11)V。

6.1.1环境温度:(20士5)℃。

6.2测量标准及其他设备

6.2.5其他(必要时):自准直仪(检定合格,见7.5),适用于所考察波段的辅助起 偏棱镜(消光比达到100000:1),波片和起偏棱镜的旋转、装夹机构。

标准样品表面应光洁无尘埃及明显油污、指纹等,否则应当清洗后再校准(例如, 可用丙酮冲洗、高纯干燥气体吹干、使样品在清洁环境中达到稳定;不建议超声清洗)。 波片标准样品快轴方向清晰。应有型号、编号等标识。 椭偏仪应附带使用和维护说明书,工作正常,无影响性能的机械损伤。 仪器预热:一般需至少预热10min(具体参照使用说明书);光源开启后一般需预 热10min

将波长标准光源的输出引人探测光路,待信号强度足够或最大化、波长标准光源正 常工作5min后,用椭偏仪测量特征谱线图谱(相对光谱功率分布)。取峰值波长或半 高全宽中心波长作为波长示值入:,按式(1)计算波长示值误差。

式中: ——波长示值误差; N——测量次数,N≥6; 入:——波长第i次测量值; 入。—波长标准值。

式中: —波长示值误差; N——测量次数,N≥6; 入:——波长第i次测量值; 入。 波长标准值。

扫描汞灯的253.7nm或546.1nm特征谱线,记录对应图谱,测量半高全宽作为 仪器的光谱带宽。

7.4椭偏角测量重复性

椭偏仪入射、反射角设定为90°;具有机械扫描式单色仪的光谱椭偏仪,在重复 寸,每次均从同一波长起始点开始扫描;按式(2)得到椭偏角平均值亚和△。

式中,N为重复测量次数,N≥6。计算实验标准偏差S和S作为椭偏角测量 生。

如入射光路出口处有聚焦元件(如微光斑附件),应取下,使入射光接近准直光束。 利用入射光从角度标准器工作面反射文鼎苑钢筋施工方案,并与入射光重合,通过比较入射臂仪器示值与角 度标准器标准角度,得到示值误差。典型的校准方法如图3所示。 (1)调整角度标准器的0工作面与偏仪工作时被测样品表面平行; (2)调节入射臂角度,必要时在保证(1)条件下微调角度标准器方位角,使得入 射光经角度标准器工作面反射后与入射光重合,记录此时仪器显示的入射臂角度示值; (3)当重复测量时,需取下角度标准器,重复(1)~(3)的过程:

(4)如果难以实现(2)的操作(例如入射角为固定式),可利用自准直仪对准角度 标准器0工作面,调节样品台倾角,使反射光与入射光重合,记录自准直仪在调节前后 的示值差值作为入射角示值误差。 重复测量N次(N≥9),所得各次测量结果的标准偏差应小于0.05°,否则应重新 测量。用式(3)计算入射角的示值误差

式中: 。一一入射角的示值误差; N一测量次数,N≥9; 9:一入射角第i次测量值; . 一入射光对准的工作面与0工作面的夹角(标准值)

式中: 。——人射角的示值误差; N—测量次数,N≥9; :—入射角第i次测量值 6 一人射光对准的工作面!

图3人射角校准示意图

住宅小区地下室防水工程施工方案(聚氨酯涂膜防水)_secret9一人射角示值(仪器读数);9,一人射光对准的工作面与0工作面夹角(标准值)

图4波片测量示意图 P一槛偏仪起偏器:C1一波片标准样品

©版权声明
相关文章