标准规范下载简介
JB／T 14006-2020 滚动轴承 高碳铬轴承钢零件 残留奥氏体检测规程.pdfICS21.100.20 J11
滚动轴承 高碳铬轴承钢零件 残留奥氏 体检测规程
中华人民共和国工业和信息化部发布
JB/T140062020
前言 范围 2规范性引用文件 3术语和定义 4测量范围 5测量原理 5.1X射线衍射法的测量原理， 5.2磁测法的测量原理 5仪器及要求， 6.1X射线衍射法的仪器及要求. 6.2磁测法的仪器及要求， 测试环境 8试样某抗滑桩工程施工组织设计， 8.1试样尺寸.. 8.2试样表面要求. 9测试方法 9.1X射线衍射法的测试方法， 9.2磁测法的测试方法.. 10检测报告. 附录A（资料性附录）衍射仪和应力仪的综合稳定度 附录B（资料性附录）磁测仪测量层深对应的测量频率 表1衍射线间的累积强度比值和允许的相对波动范围 表2CoKα辐射不同衍射线对应的G值（衍射仪） 表3CuKα辐射不同衍射线对应的G值（衍射仪） 表4CrKα辐射不同衍射线对应的G值（应力仪） 表B.1磁测仪测量层深对应的测量频率
前言 范围 2规范性引用文件 3术语和定义 4测量范围.. 5测量原理 5.1X射线衍射法的测量原理， 5.2磁测法的测量原理 6仪器及要求， 6.1X射线衍射法的仪器及要求. 6.2磁测法的仪器及要求， 测试环境 8试样. 8.1试样尺寸.. 8.2试样表面要求. 9测试方法 9.1X射线衍射法的测试方法， 9.2磁测法的测试方法... 10检测报告... 附录A（资料性附录）衍射仪和应力仪的综合稳定度 附录B（资料性附录）磁测仪测量层深对应的测量频率 表1衍射线间的累积强度比值和允许的相对波动范围 表2CoKα辐射不同衍射线对应的G值（衍射仪） 表3CuKα辐射不同衍射线对应的G值（衍射仪） 表4CrKα辐射不同衍射线对应的G值（应力仪） 表B.1磁测仪测量层深对应的测量频率，
JB/T140062020
滚动轴承高碳铬轴承钢零件残留奥氏体检测规程
本标准规定了X射线衍射法和磁测法测定高碳铬轴承钢零件中残留奥氏体含量的检测方法和试验 规程。 本标准适用于符合GB/T18254规定的高碳铬轴承钢零件（以下简称零件）残留奥氏体含量的 检测。
残留奥氏体retainedaustenite 工件淬火冷却至室温后残存的奥氏体。 累积强度integralintensity 同一晶体取向发生衍射的所有强度的累积。
X射线衍射法测量零件表面深度10μm以内的残留奥氏体；磁测法测量零件表面深度0.2mm 残留奥氏体。
5.1X射线衍射法的测量原理
根据文射线衍射原理，某物相的文射线衍射线索积强度随该相在试样中的相对含量的增加而提 高。通过测定所选定的马氏体相及奥氏体相衍射线的累积强度，按公式（1）计算钢中奥氏体相的体 积分数。
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α一马氏体相； ——奥氏体相； Vx—钢中奥氏体相的体积分数（X射线衍射法); Ve 钢中碳化物相总量的体积分数，高碳铬轴承钢一般选取（4～6）%； Ia(hki) 钢中马氏体相（hkl）；晶面衍射线的累积强度； I(ak), 钢中奥氏体相（hkl);晶面衍射线的累积强度； G 奥氏体相（hkl)；晶面与马氏体相（hkl)；晶面所对应的强度有关因子之比，按公式（2 计算。
Praeni (LP)(ak)i V Pa(akni 2M IF la(nkl)i
5.2磁测法的测量原理
高碳铬轴承钢淬火后为铁磁相和非铁磁相二相体，其中残留奥氏体、碳化物为非铁磁相，相对磁导 率μ~1.0；马氏体为铁磁相，相对磁导率μ=10～10%。利用两者差异建立起桥路不平衡电流和钢中残 留奥氏体含量的定量函数关系，通过测量试样的不平衡电流值，按公式（3）计算钢中残留奥氏体体税 分数。
6.1X射线衍射法的仪器及要求
X射线衍射法采用X射线衍射仪（以下简称衍射仪）或具备测定残留奥氏体功能的X射线应 以下简称应力仪）测试，仪器的综合稳定度应优于1%。仪器的综合稳定度的测试方法参见附
6.2磁测法的仪器及要求
磁测法采用频率在10Hz~2000Hz范围内可调的磁测仪测试，灵敏度应高于1mA/1%奥氏体体积分数
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7.1测试场所应远离电场、磁场和振源，避免外界干扰影响测量结果。测试环境应保持清 7.2测试场所的环境温度应为10℃35℃，相对湿度不应大于70%
3.1.1X射线衍射法所用试样的被测试面尺寸应大于X射线照射区域。 8.1.2磁测法所用试样被测试部位平面尺寸应大于磁测仪传感器的外尺寸
8.2.1试样被测表面应无脱碳层、氧化层、热影响区、油污及磕碰划伤。 8.2.2试样平面的表面粗糙度Ra≤1.6μm；经过电解抛光的表面，应清除残存的附着碳化物，显露具 有金属光泽的表面。 8.2.3试样经电动砂轮强力打磨或线切割加工的表面不可直接测试。
9.1X射线衍射法的测试方法
9.1.1仪器参数的选择
衍射仪使用CoKα（或CuKa）辐射， 官电压为30kV~ 一35kV，采用后置石墨单色器：应力仪使用 CrKa辐射，管电压为20kV~30kV，采用钒滤波片，滤波片厚度不应小于0.016mm。
9.1.1.2狭缝系统及入射准直管
9.1.1.2.1衍射仪尽量选取大的狭缝。 9.1.1.2.2应力仪尽量选取直径大的入射准直管，但应保证在所选用的衍射位置上X射线照射区域不 超出试样的被测表面。对于套圈和滚子，应使20平面平行于零件圆柱素线；对于钢球，照射区域直径 不应大于球径的1/5。
9.1.1.3衍射扫描速度和范围
9.1.1.3.1衍射仪20角的扫描速度不应大于1%min；采用步进扫描时，每度总记录的时间不应小于1min。 9.1.1.3.2应力仪的马氏体（α相）衍射峰扫描步距一般选取0.1°或0.2°，奥氏体（相）衍射峰扫描 步距一般选取0.1°或0.05°，在奥氏体含量极低的情况下，可选用0.02°或0.01°。 计数时间根据照射区域大小和X射线发射功率而定，通常情况下，马氏体（α相）衍射峰计数时间 选用1s～5s，奥氏体（相）衍射峰计数时间选用2s～10s。计数时间应以能得到圆滑的衍射曲线为 具体选取原则。 9.1.1.3.3衍射仪和应力仪应以能得到具有足够的衍射峰前后背底的衍射曲线为扫描范围的确定 原则。
AB/T140062020
AB/T140062020
9.1.2.1衍射线的选用
9.1.2.1.1衍射仪：马氏体（α相）选用（200）、（211）两晶面的衍射线，奥氏体（相）选用（200）、 （220）、（311）三晶面的衍射线。 9.1.2.1.2应力仪：一般选用马氏体（α相）（211）晶面的衍射线和奥氏体（相）（220）晶面的衍射 线；如果使用加宽26的测角仪，马氏体（α相）可选用（200）、（211）两晶面的衍射线，奥氏体（ 相）可选用（200）、（220）两晶面的衍射线
9.1.2.2衍射线对的组合
9.1.3累积强度波动范围
马氏体（α相）和奥氏体（相）中各衍射线间的累积强度比值和允许的相对波动范围，应符合 定。
衍射线间的累积强度比值和允许的相对波动范围
衍射仪使用CoKα辐射， 衍射仪使用CuKα辐射，不同衍 射线对应的G值按表3的规定：应力 线对应的G值按表4的规定。
表2CoKα辐射不同衍射线对应的G值（衍射仪）
DB13／T 5361-2021标准下载JB/T140062020
表3CuKa辐射不同衍射线对应的G值（衍射仪）
表4CrKa辐射不同衍射线对应的G值（应力仪）
9.1.4.2残留奥氏体含量计算
9.1.4.2.1分别计算：Ia(200)/ I(200)，Ia(200)/I(220)，la(200)/ I(311)，la(211)/I(200)，la(211)/I(220)， α(211) /l (311)o 9.1.4.2.2对衍射仪，按照公式（1)，根据每一Ia/I,值与对应G值，逐次算出相应的Vx值后求其算术 平均值，此值即为残留奥氏体相的体积分数。 9.1.4.2.3对应力仪，按照公式（1)： 测量两条衍射线，根据I/I值与对应G值计算Vx值，进行三次测试，算出三个Vx值后求其 算术平均值，此值即为残留奥氏体相的体积分数： 测量四条衍射线，根据每一I/I值与对应G值，逐次算出相应的Vx值后求其算术平均值，
1.4.2.1分别计算：la（200)/ I(200)，Ia（200)/I(220)，la（200)/I(311)，la（211)/I（200)，la（211)/ 211) /L(311)。 1.4.2.2对衍射仪，按照公式（1)，根据每一Ia/I,值与对应G值，逐次算出相应的Vx值后求其 均值，此值即为残留奥氏体相的体积分数。
4.2.3对应力仪，按照公式（1）： 测量两条衍射线，根据I/I值与对应G值计算Vx值，进行三次测试，算出三个Vx值后 算术平均值，此值即为残留奥氏体相的体积分数： 测量四条衍射线，根据每一I/I值与对应G值，逐次算出相应的Vx值后求其算术平均 此值即为残留奥氏体相的体积分数。
沉管施工工艺9.2磁测法的测试方污
9.2.2灵敏度系数标定